太阳能

2015, No.260(12) 26-31

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晶体硅光伏组件EL检测出的黑片缺陷失效分析

龚海丹,王国峰,朱景兵

摘要(Abstract):

主要针对晶体硅太阳电池在生产过程、实验室测试和实际运行的不同阶段所观察到的4种不同类型的缺陷黑片,通过红外线(IR)、电致发光(EL)、反向偏压致发光(ReBEL)和能谱仪(EDX)等手段进行研究、分析,找出这些黑片缺陷产生的根本原因。

关键词(KeyWords): 晶体硅光伏组件;缺陷;电池黑片;失效分析;EL检测

Abstract:

Keywords:

基金项目(Foundation):

作者(Author): 龚海丹,王国峰,朱景兵

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