太阳能

2008, No.135(07) 27-28+17

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硅基薄膜光电性能测试技术——电导温度曲线和光电导衰退的测试

孔光临,郝会颖,彭文博,刘石勇,张长沙,石明吉,曾湘波,廖显伯

摘要(Abstract):

介绍了硅基薄膜电导温度曲线和光电导衰退测试设备和方法,包括测试设备、采集数据的方法及测试的操作规程等。

关键词(KeyWords): 硅基薄膜;电导;光电导;透射谱;电池量子效率

Abstract:

Keywords:

基金项目(Foundation): 国家自然科学基金(60576036);; 国家重大基础研究973项目(2006CB202604)的资助)

作者(Author): 孔光临,郝会颖,彭文博,刘石勇,张长沙,石明吉,曾湘波,廖显伯

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