电致发光技术在非晶硅组件量产中的应用
周长友,吕建党,朱鑫
摘要(Abstract)：
本文基于电致发光(EL)的原理,利用红外检测的方法,检测出非晶硅电池中存在的隐性缺陷,如漏电及电阻不均等。实验表明,EL检测在非晶硅薄膜电池与晶体硅电池中存在较大差别,非晶硅EL图像中的暗斑多由漏电引起,大量暗斑使组件的功率大幅下降;非晶硅EL图像中没有晶体硅EL图像中的断栅、隐裂等现象;非晶硅EL图像要求更高清晰度和细节显示。针对这些差别,应在薄膜电池EL检测应用中优化EL检测设备。
关键词(KeyWords)： 电致发光;非晶硅组件;缺陷检测
基金项目(Foundation):
作者(Author): 周长友,吕建党,朱鑫
参考文献(References)：
- [1]肖娇,徐林,曹建明,等.缺陷太阳电池EL图像及伏安特性分析[J].现代科学仪器,2010,(5):105-108.
- [2]刘恩科,朱秉生,罗晋生,等.半导体物理学[M].西安:西安交通大学出版社,1998.
- [3]王超,蒋晓瑜,柳效辉.基于电致发光成像理论的硅太阳电池缺陷检测[J].光电子·激光,2011,22(9):1332-1337.
- [4]Wurfel P,Trupke T,Puzzer T,et al.Diffusion lengths of silicon solar cells from luminescence images[J].Journal of Applied Physics,2007,101(12):123110.
- [5]Fuyuki,kondo H,Yamazaki T,et al.Photographic surveying of minority carrier diffusion length in polycrystalline silicon solar cells by electroluminescence[J].Applied Physics Letters,2005,86:(26):262108-262108-3.
- [6]郑建邦,任驹,郭文阁,等.太阳电池内部电阻对其输出特性影响的仿真[J].太阳能学报,2006,27(2):121-125.
- [7]王楠.太阳能电池板破损在线检测系统的研究[D].保定:河北农业大学,2011.
- [8]杨畅民,张豪,黄国锋.电致发光成像在晶体硅电池和组件质量监测中的应用[J].中国建设动态:阳光能源,2009,(6):42-43.