光伏组件PID失效与DH失效的微观分析研究RESEARCH ON MICRO ANALYSIS OF PID AND DH FAILED PV MODULES
孟庆法,田茜茜
摘要(Abstract)：
对电势诱导衰减(potential induced degradation,Pid)测试和湿热(damp heat,dh)测试后失效的光伏组件进行破拆,根据电致发光(electroluminescence,EL)测试结果,选取EL图像显示的不同明、暗区域(正常区域、异常区域)的太阳电池作为测试样品,并对其表面进行扫描电镜-能谱(SEM-EdS)测试分析。研究结果表明,Pid测试与dh测试后光伏组件的失效机理均与高温、高湿环境使玻璃中的金属离子向太阳电池迁移有关。高温、高湿环境会导致玻璃中Na~+等金属离子向太阳电池表面聚集,形成漏电流通道,尤其是Pid测试的外加电场会加速Na~+等金属离子的迁移与富集,严重腐蚀电池的栅线,破坏太阳电池表面致密的SiNx层,影响p-n结的正常工作,最终造成光伏组件失效、太阳电池的EL图像发暗。
关键词(KeyWords)： 光伏组件;电势诱导衰减;湿热;失效分析;电致发光;扫描电镜;能谱
基金项目(Foundation):
作者(Author): 孟庆法,田茜茜
DOI: 10.19911/j.1003-0417.tyn20200312.02
参考文献(References)：
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